PART 1
研讨会基本信息
NI测试测量技术研讨会北京站即将启幕! 本次会议以“AI+测试”为核心,深入探讨人工智能在测试测量领域的落地实践。
现场将集中展示多款新产品,包括AI能力进一步增强的新版本 LabVIEW、新一代 PXI 机箱、控制器及仪器板卡,以及全新 USRP X420等。
会议还将覆盖商业卫星互联网、半导体测试、院校前沿研究、人形机器人等热点领域,携手探索智能测试新机遇,共赢未来。
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PART 2
为什么参会?
聚焦“测试 + AI”前沿趋势,探讨 AI 如何真正赋能测试开发流程
中国特别版PXI产品发布,性能不负众望,价格超乎想象
射频及航空航天论坛,汇集大带宽流盘回放、信道仿真测试、射频参数测试等功能
前沿行业应用,包含AI通信系统,相控阵,6G研究、人形机器人、高速ADC等
展示环节,超过15个实机系统,现场体验,与资深工程师深入交流
PART 3
谁适合参加?
测试测量工程师、研发工程师
工程团队负责人,技术总监
院校及研究所研究人员
LabVIEW爱好者,开发者